AOI – 自動光學檢測
對於原型和大批量的生產，Gardien 使用最先進的AOI光學檢測功能提高您的測試結果，產量和交貨時間。 快速掃描您的產品找出現有的和潛在的缺陷，避免了發貨後災難性的後果。
AOI 光學檢測滿足了不斷增長的電路板密度和多樣性，通過採用重複的，客觀，準確，高分辨率檢的步驟，其功能齊全強大， 足以在發貨給客戶之前或製成之前找出巨大的潛在問題。
Gadien 改進您的流程
使用AOI自動光學檢測，Gardien 可以幫助你找出生產過程中的問題和錯漏，使其得到妥善的解決。
不恰當的線寬或間距。過多和漏失的銅。佈置錯誤。孔徑大小的錯誤。短路或接近短路。切斷。破損孔（鑽孔過深）。逐段重複錯誤。定位錯誤。以上的災害性的描述只是一些平常生產中比較常見的問題。尤其是如果您的電路板是作為高頻率，高電壓，高數據，高放大率， 傳輸應用中顯得至關重要。
利用AOI自動光學檢測技術，Gardien 可以在幾秒鐘內檢測這些問題，幫助您從過程中找出他們並及早解除。
Gardien 的光學檢測覆蓋面，可以在生產開發前找出問題並解決，改善成像和蝕刻程序。